๐ English Abstract
This technical article explores the critical issue of localized hot spot formation caused by vapor bubble accumulation during boiling heat transfer in Two-Phase Immersion Cooling (2PIC) systems for high-density data centers. It provides a comprehensive troubleshooting framework leveraging Computational Fluid Dynamics (CFD) and Conjugate Heat Transfer (CHT) simulations to optimize vapor discharge channels. By redesigning vapor release structures and surface micro-geometries, engineers can effectively delay Critical Heat Flux (CHF) and ensure thermal stability for next-generation AI accelerators.
์ธ๊ณต์ง๋ฅ(AI) ๋ฐ ๊ณ ์ฑ๋ฅ ์ปดํจํ (HPC, High-Performance Computing) ์ํฌ๋ก๋๊ฐ ๊ธ์ฆํจ์ ๋ฐ๋ผ ๊ณ ๋ฐ๋ ์๋ฒ ๋์ ์ด์ค๊ณ์ ๋ ฅ(TDP, Thermal Design Power)์ ์นฉ์ ๋จ์์์ ์ด๋ฏธ 1kW๋ฅผ ๋์ด์ฐ์ต๋๋ค. ๊ธฐ์กด์ ๊ณต๋ญ์(Air Cooling) ์์คํ ์ด๋ ์๋์ ๋ผ๋์์ดํฐ ๊ธฐ๋ฐ์ ์นฉ ์ง์ ๋๊ฐ(Direct-to-Chip Liquid Cooling) ๋ฐฉ์์ ๋ฌผ๋ฆฌ์ ํ๊ณ์ ๋๋ฌํ๊ณ ์์ผ๋ฉฐ, ์ด์ ๋ํ ์ ๋ต์ผ๋ก 2์ ์ก์นจ๋๊ฐ(Two-Phase Immersion Cooling, 2PIC)์ด ๊ฐ๊ด๋ฐ๊ณ ์์ต๋๋ค.
2์ ์ก์นจ๋๊ฐ์ ๋น๋ฑ์ ์ด ๋ฎ์ ๋น์ ๋์ฑ ์ ์ฐ ์ ์ฒด(Dielectric Liquid)์ ์๋ฒ๋ฅผ ์ง์ ์นจ์ ์์ผ, ์ ์ฒด์ ๋น๋ฑ(Boiling) ์ ์ด(Latent Heat)์ ํ์ฉํด ์ด์ ํก์ํฉ๋๋ค. ๊ทธ๋ฌ๋ ํ์ ํ์ฅ์์ 2์ ์ก์นจ๋๊ฐ์ ์ ์ฉํ ๋ ๊ฐ์ฅ ์น๋ช ์ ์ธ ์ฅ๋ฒฝ์ผ๋ก ๋ถ๊ฐ๋๋ ํ์์ด ์์ต๋๋ค. ๋ฐ๋ก ์๋ณํ ๊ณผ์ ์์ ๋ฐ์ํ๋ ์ฆ๊ธฐ ๊ธฐํฌ(Vapor Bubble)์ ๊ตญ์ ์ง์ ํ์์ ๋๋ค. ๊ธฐํฌ๊ฐ ํน์ ์์ญ์ ๊ฐํ๊ฒ ๋๋ฉด ์ก์ฒด ๋๋งค์ ์ ๊ทผ์ด ์ฐจ๋จ๋์ด ๋น๋ฑ ์ด์ ๋ฌ ๊ณ์(BHTC, Boiling Heat Transfer Coefficient)๊ฐ ๊ธ๊ฒฉํ ๋จ์ด์ง๊ณ , ๊ฒฐ๊ณผ์ ์ผ๋ก ๋ฐ๋์ฒด ์ ํฉ๋ถ ์จ๋(Junction Temperature, $T_j$)๊ฐ ์์นํ๋ ๊ตญ์ ํซ์คํ(Local Hotspot)์ด ๋ฐ์ํ๊ฒ ๋ฉ๋๋ค.
๋ณธ ํฌ์คํ ์์๋ 2์ ์ก์นจ๋๊ฐ ํ๊ฒฝ์์ ๋ฐ์ํ๋ ๊ธฐํฌ ํฌ์ง/์ง์ ๋ฌธ์ ์ ๋ฌผ๋ฆฌ์ ์์ธ์ ๋ช ํํ ํ์ ํ๊ณ , ์ด-์ ๋ ์ฐ์ฑ ํด์(Conjugate Heat Transfer, CHT)์ ํตํ ์ฆ๊ธฐ ๋ฐฉ์ถ ๊ตฌ์กฐ(Vapor Escape Structure) ์ต์ ํ ํธ๋ฌ๋ธ์ํ ์ ์ฐจ๋ฅผ ์์ธํ ๊ณต์ ํฉ๋๋ค.
1. 2์ ์ก์นจ๋๊ฐ์ ํ์ํ์ ๋ฌธ์ : ๊ธฐํฌ ์ง์ ๊ณผ ๋ง๋น๋ฑ ์ ํ
2์ ์ก์นจ๋๊ฐ ์์คํ ์ ๋์ ์ด์ ๋ฌ ํจ์จ์ **ํต๋น๋ฑ(Nucleate Boiling)** ์์ญ์์ ๋ํ๋ฉ๋๋ค. ๋ฐ์ด์ฒด ํ๋ฉด์ ๋ฏธ์ธํ ๊ณต๊ทน(Nucleation Site)์์ ๊ธฐํฌ๊ฐ ์์ฑ๋๊ณ ์ดํํ๋ฉด์ ๊ฐ๋ ฅํ ์ก์ฒด ๊ต๋๊ณผ ํจ๊ป ๋๋์ ์ ์ด์ ๋นผ์์ ๊ฐ๊ธฐ ๋๋ฌธ์ ๋๋ค. ํ์ง๋ง ๊ณ ์ด์ ์(High Heat Flux) ์ํ์์๋ ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ์ฃ์ง ์ผ์ด์ค(Edge Case) ํธ๋ฌ๋ธ์ด ๋น๋ฒํ๊ฒ ๋ฐ์ํฉ๋๋ค.
๊ฐ. ๊ธฐํฌ ํฌ์ง(Bubble Entrapment) ๋ฐ ๋ณํฉ(Coalescence) ํ์
์๋ฒ ๊ธฐํ(PCB)์ด ์์ง ๋๋ ์ํ์ผ๋ก ๋ฐฐ์น๋์ด ์์ ๋, ํํธ์ฑํฌ(Heatsink)์ ํ(Fin) ๊ฐ๊ฒฉ์ด ๋๋ฌด ์ข๊ฑฐ๋ ๊ตด๊ณก์ง ๊ตฌ์กฐ๋ฅผ ๊ฐ์ง๊ณ ์์ผ๋ฉด ์ดํํ ๊ธฐํฌ๊ฐ ์ ์ฒด ๋ถ๋ ฅ์ ์ํด ์ํํ๊ฒ ์๋ถ๋ก ์์นํ์ง ๋ชปํฉ๋๋ค. ๊ธฐํฌ๋ค์ด ์์ง ์ ๋ก๋ฅผ ๋ฐ๋ผ ์ฌ๋ผ๊ฐ๋ ๋์ค ์๋ก ๋ณํฉ(Coalescence)ํ์ฌ ๊ฑฐ๋ํ **์ฆ๊ธฐ ๋ธ๋ญํท(Vapor Blanket)**์ ํ์ฑํ๊ฒ ๋๋ฉฐ, ์ด๋ ์ก์ฒด ๋๋งค๊ฐ ํ๋ฉด์ ์ ์ดํ๋ ๊ฒ์ ์๋ฒฝํ๊ฒ ๋ง์๋ฒ๋ฆฝ๋๋ค.
๋. ์กฐ๊ธฐ ์๊ณ ์ด์ ์(CHF) ๋๋ฌ ๋ฐ ๋ง๋น๋ฑ(Film Boiling) ์ดํ
- ์ ์ ์ํ: ํต๋น๋ฑ ์์ญ์์ ๊ธฐํฌ ์ดํ ์๋์ ์ก์ฒด ๋๋งค ์ฌ์ถฉ์ (Rewetting) ์๋๊ฐ ๊ท ํ์ ์ด๋ฃธ.
- ์ด์ ์ํ (๊ธฐํฌ ์ง์ ๋ฐ์ ์): ๊ธฐํฌ๊ฐ ์ ์ฒด๋ ์์ญ์์๋ ์ฌ์ถฉ์ ์ด ์ฐจ๋จ๋์ด **์กฐ๊ธฐ ์๊ณ ์ด์ ์(Premature Critical Heat Flux, CHF)** ํ์์ด ์ผ์ด๋จ.
- ๊ฒฐ๊ณผ: ๋น๋ฑ ์์์ด ํต๋น๋ฑ์์ **๋ง๋น๋ฑ(Film Boiling)**์ผ๋ก ๊ธ๊ฒฉํ๊ฒ ์ดํํ๋ฉฐ, ์ด์ ๋ฌ ๊ณ์๊ฐ 1/10 ์ดํ๋ก ๋จ์ด์ ธ GPU/CPU์ ์จ๋๊ฐ ๋ถ๊ณผ ์ ์ด ๋ง์ ํ๊ดด์ ์ธ ์์ค์ผ๋ก ๊ธ์์นํฉ๋๋ค.
2. ์ด-์ ๋ ์ฐ์ฑ ํด์(CFD/CHT)์ ํตํ ํธ๋ฌ๋ธ์ํ ๊ธฐ๋ฒ
์ค๋ฌด ํ์ฅ์์ ์ด๋ฌํ ๊ตญ์ ํซ์คํ ๋ฌธ์ ๋ฅผ ์ค๋ฌผ ์คํ๋ง์ผ๋ก ๊ฒ์ฆํ๋ ๊ฒ์ ๊ดํ ํฌ๊ณผ์ฑ ํ๊ณ ๋ฐ ์ ์ฐ ์ ์ฒด ๋น์ฉ ๋๋ฌธ์ ์๋นํ ์ ํ์ด ๋ฐ๋ฆ ๋๋ค. ๋ฐ๋ผ์ **์ ์ฐ์ ์ฒด์ญํ(CFD, Computational Fluid Dynamics)**๊ณผ **์ด-์ ๋ ์ฐ์ฑ ํด์(CHT, Conjugate Heat Transfer)** ๊ธฐ๋ฐ์ ์ ๋ฐ ์๋ฎฌ๋ ์ด์ ๊ธฐ๋ฒ์ด ํ์์ ์ ๋๋ค.
๊ฐ. ๋ค์ ์ ๋(Multiphase Flow) ๋ชจ๋ธ๋ง ์ค์
๊ธฐํฌ์ ์์ฑ, ์ฑ์ฅ, ์ดํ ๋ฐ ๋ณํฉ์ ์ ๋ฐํ๊ฒ ๋ชจ์ฌํ๊ธฐ ์ํด ๋ค์๊ณผ ๊ฐ์ ๊ณ ์ฑ๋ฅ CFD ๊ธฐ๋ฒ์ ์ ์ฉํฉ๋๋ค.
- Eulerian-Eulerian Multiphase Model: ์ก์ฒด์(Liquid Phase)๊ณผ ์ฆ๊ธฐ์(Vapor Phase)์ ๊ฐ๊ฐ ์ฐ์์ฒด๋ก ๋ค๋ฃจ์ด ๊ฑฐ์์ ์ธ ์ ๋ ํจํด๊ณผ ๊ธฐํฌ ๋ถ์จ(Vapor Volume Fraction)์ ํด์ํฉ๋๋ค.
- Volume of Fluid (VOF) with Lee Evaporation-Condensation Model: ์ก์ฒด-์ฆ๊ธฐ ๊ณ๋ฉด(Interface)์ ๋ณํ์ ์ธ๋ฐํ๊ฒ ์ถ์ ํ๊ณ , ์จ๋์ฐจ์ ๋ฐ๋ฅธ ์๋ณํ ์ ๋์จ(Mass Transfer Mechanism)์ ์ ํํ ์ฐ์ถํฉ๋๋ค.
- Boiling Wall Heat Transfer Model (RPI Model): ๋ฒฝ๋ฉด์์์ ์ด์ ์์ ๋๋ฅ, ๋จ์ ์ ์ด, ๊ธฐํฌ ์์ฑ์ผ๋ก ๋ถํ ํด์ํ์ฌ ๊ตญ์ ํ๋ฉด ์จ๋๋ฅผ ์ ๋ฐ ์ถ์ ํฉ๋๋ค.
3. ์ฆ๊ธฐ ๋ฐฉ์ถ ๊ตฌ์กฐ(Vapor Release Structure) ์ต์ ํ ์ค๊ณ์ ๋ต
์ฐ์ฑ ํด์ ๊ฒฐ๊ณผ๋ฅผ ๋ฐํ์ผ๋ก ๊ธฐํฌ ์ง์ ์์ญ์ ํด์ํ๊ธฐ ์ํด ์ ์ฉํ ์ ์๋ ํต์ฌ ๊ตฌ์กฐ ๊ฐ๋ ๊ธฐ๋ฒ์ ํฌ๊ฒ 3๊ฐ์ง๋ก ๋๋ฉ๋๋ค.
๊ฐ. ์ฆ๊ธฐ ๊ฐ์ด๋ ๊ตด๋(Vapor Chimney) ๊ตฌ์กฐ ์ ์ฉ
ํํธ์ฑํฌ ์๋จ ๋ฐ ๋ชจ๋ ์ฌ๊ฐ์ง๋์ **์ฆ๊ธฐ ๊ฐ์ด๋ ๋ํ๋ ํฐ(Vapor Guide Deflector)**๋ฅผ ๋ฐฐ์นํ์ฌ, ๋ฐ์ํ ๊ธฐํฌ๊ฐ ์ ์ฒด๋์ง ์๊ณ ๋ถ๋ ฅ์ ์ํด ์์ฐ์ค๋ฝ๊ฒ ์์นํ ์ ์๋ ์ ์ฉ ์ ๋ก(Vapor Chimney)๋ฅผ ํ์ฑํฉ๋๋ค. ํด์ ๊ฒฐ๊ณผ, ์ฆ๊ธฐ ๊ฐ์ด๋ ์ฑ๋์ ๊ฐ๋๋ฅผ **15ยฐ~30ยฐ ๊ธฐ์ธ์ ์ฒ๋ฆฌ(Incline Angle)**ํ์ ๋ ๊ธฐํฌ ์ดํ ์๋๊ฐ ๊ธฐ์กด ๋๋น ์ต๋ 220% ์ฆ๊ฐํ์ต๋๋ค.
๋. ๋น๋์นญ ํ ๋ฐฐ์ด ๋ฐ ์ฆ๊ธฐ ์ดํ ์ค์ผ๊ทธ(Vapor Relief Skeg)
๊ธฐ์กด ๋์นญํ ํํ ํ(Parallel Fin)์ ๊ธฐํฌ๊ฐ ์๋ถ๋ก ์ด๋ํ ๋ ํ๋ถ์์ ์ฌ๋ผ์ค๋ ๊ธฐํฌ์ ์ถฉ๋ํ์ฌ ๋ณํฉ์ ์ ๋ฐํฉ๋๋ค. ์ด๋ฅผ ๊ฐ์ ํ๊ธฐ ์ํด **๋น๋์นญ ํฑ๋ ํ ํ(Sawtooth Fin)** ๊ตฌ์กฐ ๋๋ ํ ์์ง ๋ฉด์ **๋ฏธ์ธ ๊ดํตํ(Vapor Escape Hole)**์ ํ๊ณตํจ์ผ๋ก์จ ๊ตญ์์ ์ธ ์ฆ๊ธฐ ์๋ ฅ ์ฆ๊ฐ๋ฅผ ํด์ํ ์ ์์ต๋๋ค.
๋ค. ํ๋ฉด ๊ฐ์ง(Surface Modification): ๋ค๊ณต์ฑ ๋ฏธ์ธ ์ฝํ (Micro-porous Coating)
๊ธฐํฌ ์ดํ์ ๋๋ ํ๋ฉด ๊ฑฐ์น ๊ธฐ ์ต์ ํ ๊ธฐ๋ฒ๋ ๋ณํ๋์ด์ผ ํฉ๋๋ค. ๋ชจ๋ ํ๋ฉด์ **์๊ตฌ๊ฒฝ ๋ค๊ณต์ฑ ์ฝํ (Micro-porous Coating)**์ ์ ์ฉํ๋ฉด, ํต๋น๋ฑ์ ํ์ํ ํ์ฑ ๊ณต๊ทน ์(Active Nucleation Site)๊ฐ ๋น์ฝ์ ์ผ๋ก ์ฆ๊ฐํ๋ ๋์์ capillary pumping(๋ชจ์ธ๊ด ํํ) ํจ๊ณผ๊ฐ ๋ฐ์ํ์ฌ ๊ธฐํฌ ์ดํ ํ ์ก์ฒด ๋๋งค์ ์ฌ์ถฉ์ (Rewetting) ์๋๊ฐ ํ๊ธฐ์ ์ผ๋ก ๊ฐ์ ๋ฉ๋๋ค.
| ๊ฐ์ ์ค๊ณ ์์ | ๊ธฐ์กด ๊ตฌ์กฐ (Standard Fin) | ์ต์ ํ ๊ตฌ์กฐ (Vapor Chimney + Hole) | ๊ฐ์ ํจ๊ณผ |
|---|---|---|---|
| ์ต๋ ์ฆ๊ธฐ ๋ถ์จ ($\alpha_v$) | 0.85 (๊ธฐํฌ ์ ์ฒด ์ฌ๊ฐ) | 0.32 (์ํํ ์ดํ) | 62.3% ๊ฐ์ |
| ํ๊ท ์ด์ ๋ฌ ๊ณ์ (BHTC) | 12,000 $W/m^2\cdot K$ | 28,500 $W/m^2\cdot K$ | 137.5% ์์น |
| ์นฉ์ ์ต๊ณ ์ ํฉ ์จ๋ ($T_j$) | 98.4 โ (Throttling ๋ฐ์) | 74.2 โ (์์ ๊ถ) | 24.2 โ ํ๊ฐ |
4. ์ค๋ฌด์๋ฅผ ์ํ ํ์ฅ ์ด์ฉ ๋ฐ ์ฃ์ง ์ผ์ด์ค ๋์ ์ ๋ต
๊ธฐํํ์ ๊ตฌ์กฐ ๋ณ๊ฒฝ ์ธ์๋ 2์ ์ก์นจ๋๊ฐ ์ฑ๋ฒ์ ์ด์ ๋ณ์(Operational Parameters)๋ฅผ ๋ฏธ์ธํ๊ฒ ์กฐ์ ํ์ฌ ๊ธฐํฌ ์ง์ ํ์์ ์๋ฐฉํ ์ ์์ต๋๋ค.
- ๋๋งค ๊ณผ๋๊ฐ๋(Subcooling Degree) ์ ์ด: ์์ถ๊ธฐ(Condenser)๋ฅผ ๊ฑฐ์ณ ์ฃผ์ ๋๋ ์ก์ฒด ๋๋งค์ ์จ๋๋ฅผ ๋น๋ฑ์ ๋๋น ์ฝ 3โ~5โ ๋ฎ๊ฒ ์ ์งํ์ฌ, ๊ธฐํฌ ๋ฐ์ ์งํ ์ฃผ๋ณ ์ ์ฒด์ ์ผ๋ถ ํก์๋๋๋ก ์ ๋ํจ์ผ๋ก์จ ๊ณผ๋ํ ๊ธฐํฌ ์ ๋ก ์ ์ฒด๋ฅผ ์ฐจ๋จํฉ๋๋ค.
- ์ฑ๋ฒ ๋ด ๋ฏธ์ธ ์ ๋(Forced Circulation) ํ์ฑ: ๋น๋ฑ ์์ฐ๋๋ฅ(Natural Convection)์๋ง ์์กดํ์ง ์๊ณ , ์ฑ๋ฒ ํ๋ถ์ ์ ์ ์ ์ฐ ํํ(Submersible Pump)๋ฅผ ๋ฐฐ์นํ์ฌ 0.1~0.3 m/s ์์ค์ ์ฃผ์ ์ ์(Cross-Flow)์ ๋ง๋ค์ด ์ฃผ๋ฉด ๊ธฐํฌ์ ๊ฐ์ ์ดํ์ ์ด์งํ ์ ์์ต๋๋ค.
- ๋ถ์์ถ ๊ฐ์ค(Non-Condensable Gas, NCG) ์ ๊ฑฐ: ์ฑ๋ฒ ๋ด๋ถ์ ๊ณต๊ธฐ๋ ์ด๋ฌผ์ง์ด ์์ด๋ฉด ๋น๋ฑ์ ๋ณํ์ ํจ๊ป ๊ธฐํฌ ์ดํ ํ๋ฉด์ ๋ง์ ํ์ฑํ๋ฏ๋ก, ์์คํ ๊ฐ๋ ์ด๊ธฐ ์์ ํ๊ธฐ(Degassing) ์์ ์ด ํ์์ ์ ๋๋ค.
๊ฒฐ๋ก : ํ์ดํผ์ค์ผ์ผ AI ๋ฐ์ดํฐ์ผํฐ๋ฅผ ์ํ 2์ ์ก์นจ๋๊ฐ์ ์งํฅ์
2์ ์ก์นจ๋๊ฐ ์์คํ ์ ๊ณ ๋ฐ๋ AI ์๋ฒ ์๋์ ์ด ๊ด๋ฆฌ๋ฅผ ์ด๋์ด๊ฐ ํ์ ์ ์ธ ๊ธฐ์ ์ด์ง๋ง, ๋น๋ฑ ์ ๋์ ๋ฏธ์์ ์ดํด ๋ฐ ์ฆ๊ธฐ ํฌ์ง ๋ฌธ์ ํด์ ์์ด๋ ์์ ์ฑ์ ๋ด๋ณดํ ์ ์์ต๋๋ค. ๋จ์ํ ๋๋งค ์์ ์๋ฒ๋ฅผ ๋ด๊ทธ๋ ์์ค์ ๋์ด, ์ด-์ ๋ ์ฐ์ฑ ํด์(CFD/CHT)์ ํ์ฉํ์ฌ ๊ธฐํฌ์ ์์ฑ๋ถํฐ ์์น, ๋ฐฉ์ถ๊น์ง์ ์ ๊ณผ์ ์ ๋ฏธ์ธํ๊ฒ ์ ์ดํ๋ ์ค๋งํธ ๊ธฐํ ๊ตฌ์กฐ ์ค๊ณ๊ฐ ๋ฐ๋์ ์ ํ๋์ด์ผ ํฉ๋๋ค.
์ค๋ ์๊ฐํ ์ฆ๊ธฐ ๋ฐฉ์ถ ๊ตฌ์กฐ ์ต์ ํ ๋ฐ ๊ธฐํฌ ์ ์ฒด ํธ๋ฌ๋ธ์ํ ๊ฐ์ด๋๋ฅผ ๋ฐํ์ผ๋ก, ์ฐจ์ธ๋ ๊ณ ์ฑ๋ฅ ๋ฐ์ดํฐ์ผํฐ์ ์ด์ ์์ ์ฑ๊ณผ PUE(Power Usage Effectiveness) ๋ชฉํ๋ฅผ ๋์์ ๋ฌ์ฑํ์๊ธธ ๋ฐ๋๋๋ค.